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高性能X射線熒光測量儀，塑料涂層測厚儀，配有最先進的硅漂移探測器(SDD)，涂層測厚儀探頭，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。

特點

• 高性能機型，北京時代涂層測厚儀，具有強大的綜合測量能力
• 配有4 個電動調(diào)節(jié)的準直器和6個電動調(diào)節(jié)的基本慮片
• 配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，涂層測厚儀 探頭，還適用于更復(fù)雜的多元素分析
• 由下至上的測量方向，日照涂層測厚儀應(yīng)用，可以非常簡便地實現(xiàn)樣品定位  

典型應(yīng)用領(lǐng)域

• 對電子和半導(dǎo)體行業(yè)中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量
• 對有害物質(zhì)進行痕量分析，壁厚儀，例如，非金屬涂層測厚儀，玩具中的鉛含量
• 在珠寶和手表業(yè)，涂層測厚計，以及在金屬精煉領(lǐng)域，涂層測厚儀檢定，對合金進行高精度的分析
• 用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領(lǐng)域