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技術文章
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    X 射線熒光測試儀
    型 號:XDAL
    品 牌:德國菲希爾Fischer
    技術指標:不適合測量十分細小的結構
    果洛X 射線熒光測試儀-XDAL-德國菲希爾Fischer

    X 射線熒光測試儀,涂鍍層測厚儀,帶有可編程的 X/Y平臺和Z軸,德國尼克斯涂層測厚儀,可自動測量鍍層厚度和分析材料組分


    特點

    • 配備了半導體探測器,穿透涂層測厚儀,由于有更好的信噪比,非鐵基涂料涂層測厚儀,能更精確地進行元素分析和薄鍍層測量
    • 使用微聚焦管可以測量較小的測量點,鐵基鋁基涂層測厚儀,但因為其信號量較低,涂層測厚儀廠家直銷,不適合測量十分細小的結構  
    • 底部C型開槽的大容量測量艙
    • 有彈出功能的快速、可編程XY平臺

    典型應用領域

    • 鍍層和合金的材料分析(還適用于薄鍍層和低含量成分)
    • 來料檢驗,儀器儀表類,生產監(jiān)控
    • 研究和開發(fā)
    • 電子工業(yè)
    • 接插件和觸點
    • 黃金、珠寶和鐘表工業(yè)
    • 可以測量數(shù)納米薄的鍍層,qnix1200涂層測厚儀,如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層
    • 痕量元素分析
    • 在有“高可靠性”要求的應用中確定鉛(Pb)含量
    • 硬質鍍層分析  


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