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高性能X射線熒光測量儀,果歐涂層測厚儀,配有最先進的硅漂移探測器(SDD),涂層測厚儀 北京時代,可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。
特點
典型應用領域
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