1. 選型背景
背景：野外 / 室外探傷
工況：以焊縫探傷為主主要考慮板的對(duì)接焊、搭接焊、角焊；表面通常有漆、不光滑；板厚多在 25mm 以下；多為裝配件即已裝配完畢、不拆卸探測(cè)、可能只能單面探測(cè)。
難以使用渦流法：表面有漆、銹漬不光滑、有毛刺；
難以使用射線法：需考慮防護(hù)設(shè)備、洗片設(shè)備、無(wú)法當(dāng)時(shí)判斷；（工業(yè) CT 除外）
難以使用磁粉法：焊縫余高無(wú)打磨、深度裂紋無(wú)法探測(cè)、
可能有非導(dǎo)磁件（比如鋁合金件）；
難以使用滲透法：未開口到表面的缺陷無(wú)法探測(cè)。
2. 解決方案
綜合以上情況推薦使用超聲波探傷儀。對(duì)各種工況的探傷參照如下兩圖（典型圖、僅供參考）：
圖 1 對(duì)接焊焊縫余高未磨平、只能單面探測(cè)。可使用斜探頭、觀察一次或二次回波在焊縫兩側(cè)進(jìn)行掃查探傷。
圖 2 角焊縫。綜合使用斜探頭、直探頭多面、多次探測(cè)。
型號(hào)推薦（性能 / 功能的選擇）
使用超聲探傷有三個(gè)目的：
定位：有沒有缺陷、大致在什么位置；
定量：缺陷的大小是否超標(biāo)——缺陷的存在往往難免關(guān)鍵在于大小是否在安全范圍內(nèi)；
定性：什么性質(zhì)的缺陷氣孔、夾渣、裂紋？——這完全是根據(jù)對(duì)被測(cè)件的結(jié)構(gòu)、材質(zhì)熟悉探測(cè)經(jīng)驗(yàn)豐富之后自行歸納總結(jié)。
超聲波測(cè)量的工作過(guò)程：
探頭發(fā)射或接收超聲信號(hào)引起探頭晶振片振動(dòng)該機(jī)械振動(dòng)轉(zhuǎn)化為電能、表現(xiàn)為電壓大小的變化儀器監(jiān)測(cè)到這種電壓大小的變化并將這種變化轉(zhuǎn)變成示波信號(hào)在屏幕上顯示。
電壓大小的變化就是儀器要所采集的數(shù)據(jù)（采樣）根據(jù)這種變化進(jìn)行計(jì)算從而得出信號(hào)從什么位置回來(lái)的、強(qiáng)弱情況由此再根據(jù)公式（或各種標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定好的參照曲線）進(jìn)一步推斷出這個(gè)信號(hào)是否屬于超標(biāo)信號(hào)。
由此可見，采樣的精度是根本它受到被測(cè)件材質(zhì) / 結(jié)構(gòu)、探頭（頻率 / 結(jié)構(gòu)）、儀器三大方面的影響。
被測(cè)件我們無(wú)法控制、無(wú)法選擇；探頭可以不斷更換、最終根據(jù)實(shí)際情況選擇到一個(gè)合適的匹配探頭（所以探頭屬于易損易耗件）。
3. 產(chǎn)品推薦
因此在采樣精度的三大影響因素中唯一可控的，數(shù)顯測(cè)振儀或者說(shuō)可事先選擇的就是儀器。確切講就是儀器的采樣分辨率（切記不是采樣頻率）。據(jù)此推薦使用時(shí)代 TIME1150 超聲波探傷儀 。
時(shí)代 TIME1150 超聲波探傷儀 的采樣分辨率為 12bits 。假設(shè)信號(hào)滿幅度為 1V （如前所述儀器實(shí)際上都是根據(jù)電壓大小的變化來(lái)計(jì)算和顯示信號(hào)的）則 8bits 的儀器只能辨識(shí) 4mV 的電壓變化 10bits 的儀器可辨識(shí) 1mV 的電壓變化而 12bits 的儀器可辨識(shí) 0.25mV 的電壓變化。
再考慮到室外 / 野外的作業(yè)可能會(huì)有強(qiáng)光環(huán)境那么在屏幕的亮度調(diào)節(jié)上該款儀器的屏幕亮度 10 級(jí)可調(diào)而且背景色四種搭配可調(diào)。這樣即便在強(qiáng)光直射的情況下屏幕顯示內(nèi)容也清晰可辨。
鑒于板厚范圍不大、且不算厚板探測(cè)表面的空間有限，因此在標(biāo)配隨機(jī)帶的 2.5MHz 直探頭、 5MHzK2 斜探頭之外建議加配 5MHzK1 斜探頭、 5MHz 直探頭各一。如需再加配探頭將來(lái)可視情況而定（探頭即插即用）。
關(guān)于儀器性能指標(biāo)的驗(yàn)證通常送由第三方（各計(jì)量機(jī)構(gòu)）按國(guó)家頒行的相關(guān)檢定規(guī)程（或校準(zhǔn)規(guī)范）進(jìn)行檢定或校準(zhǔn)日常工作中為了自行儀器與探頭的匹配效果進(jìn)行調(diào)較、校驗(yàn)建議選購(gòu)以下三種試塊： CSK-1B （較探頭零位、角度、前沿）、 RB-1 （用于調(diào)校匹配性和制作參考曲線適用于 8 ～ 25mm 板厚）、 DB-P （ Z1-2 ）（用于調(diào)校匹配性）。其它試塊可在將來(lái)的實(shí)踐中另行選購(gòu)。
