| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱(chēng)/型號(hào) | | 主要技術(shù)指標(biāo) | 價(jià)格 |
| FX-GD系列克拉天平,3200g,0.01g
FX-3000GD | 日本AND | 稱(chēng)重范圍3200g讀數(shù)精度0.01g重復(fù)精度0.01g | 洽詢(xún)
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| 專(zhuān)業(yè)型分析天平,210g,0.1mg
AP250D | 美國(guó)奧豪斯OHAUS | 量程（ g ）: 52/210 | 洽詢(xún)
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| 精密電子分析天平,2200g,0.01g
FZ-2000i | 日本AND | 稱(chēng)重范圍：2200g | 洽詢(xún)
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| 分析天平,410g,0.1mg
ME414S-OCE | 德國(guó)賽多利斯SARTORIUS | 稱(chēng)重范圍(g)：410 | 洽詢(xún)
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| 電子分析天平,220g,0.1mg
BSA224S | 德國(guó)賽多利斯SARTORIUS | BSA224S 0.1 220 ф80 0.1 0.2 | 洽詢(xún)
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| 分析天平,210g,0.1mg
BP210S | 德國(guó)賽多利斯SARTORIUS | 讀數(shù)精度:0.1mg 稱(chēng)重范圍：210g | 洽詢(xún)
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| FX-CT系列克拉天平,310g,0.001g
FX-300CT | 日本AND | 稱(chēng)重范圍（ct/g）
310/62
讀數(shù)精度(ct/g)
0.001/0.001
重復(fù)性(ct/g)
0.001/0.005
| 洽詢(xún)
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| 電子分析天平,210g,0.1mg
HR-200 | 日本AND | 測(cè)量范圍:210克 | 洽詢(xún)
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| 艾科勒 ALB-124 電子天平,120g,0.1mg
ALB-124 | 德國(guó)賽多利斯SARTORIUS | 稱(chēng)量范圍(g)：120 | 洽詢(xún)
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| 電子分析天平,120g,0.1mg
CPA124S | 德國(guó)賽多利斯SARTORIUS | 量 程：
120g
精 度：
0.1mg
稱(chēng)盤(pán)尺寸：
ф80
| 洽詢(xún)
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| 精密電子天平,21g,0.01mg
BS21S | 德國(guó)賽多利斯SARTORIUS | 稱(chēng)重范圍(g)：21 | 洽詢(xún)
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| FX-iWP 系列防水精密電子天平,2200g,0.01g
FX-2000iWP | 日本AND | 量程2200g 精度 0.01g 稱(chēng)盤(pán)尺寸 Ø150mm | 洽詢(xún)
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| FX-iWP 系列防水精密電子天平,320g,0.001g
FX-300iWP | 日本AND | 量程 320g 精度
0.001g
稱(chēng)盤(pán)尺寸 Ø
130mm
| 洽詢(xún)
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| FX-i系列精密天平,1220g,0.01g
FX-1200i | 日本AND | FX-1200i
1220g
0.01g
直徑150mm
| 洽詢(xún)
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| BT系列精密天平,41/120g,0.01/0.1mg
BT125D | 德國(guó)賽多利斯SARTORIUS | 可讀性
（mg）0.01/0.1稱(chēng)重范圍
(g)41/120稱(chēng)盤(pán)尺寸
(mm)ф80 | 洽詢(xún)
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| 分析天平,110g,0.1mg
AR1140 | 美國(guó)奧豪斯OHAUS | 量程（ g ）: 110 | 洽詢(xún)
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| FX-i系列精密天平,320g,0.001g
FX-300i | 日本AND | FX-300i
320g
0.001g
直徑130mm
| 洽詢(xún)
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| 電子分析天平,210g,0.1mg
GR-202 | 日本AND | 測(cè)量范圍:210/42克 | 洽詢(xún)
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| 微量分析天平,220g,0.1mg
GH-202 | 日本AND | 專(zhuān)業(yè)型高精度寬范圍微量天平 | 洽詢(xún)
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| 日本AND MC系列精密天平
AND MC系列 | 日本AND | 標(biāo)配玻璃防風(fēng)罩（MC-1000/6100）或簡(jiǎn)易防風(fēng)罩（MC-10K/30K） | 洽詢(xún)
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